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运算放大器测试方法<40t120fds管怎么测量>

运算放大器测试方法

由于运放输入回路的不对称性,在输入端将产生一定的误差信号,从而限制运放信号灵敏度。通 常用输入失调电压(VOS)、输入失调电流(Ios)和输入偏置电流(IB)表示。

运放有四个主要特征:输入失调特征、开环特征、共模特征及输出特征。其放大倍数较大,由于 外界的影响,即使运放的输入端产生较小的输入信号,经过放大,在输出端也会产生较大的误差。为能精确测量其性能,一般采用辅助运放进行测试。下面着重讲了运放的主要参数及如何精确测量这些参数。文中DUT代表被测运放,A代表辅助运放。

输入失调电压(VOS)定义:使输出电压为零(或规定值)时,运放两输入端间所加的直流补偿电压。

1.辅助运放测试法-VOS

测试电路原理图如下:

图中Cin电容可有效避免环路产生振荡,辅助运放A输出电压Vm是被测运放DUT失调电压的Rf/Ri 倍。

测试方法:

①通过 VI 源施加规定的被测运放电源电压VCC、VSS;

②在辅助运放A输出端测量输出电压Vm;

③输入失调电压计算公式: Vos = Vm /(Rf / RI)。 

2.单管法-VOS

测试电路原理图如下:

VO= (VOS + IOS*RI) *(1+RF/RI)

当IOS*RI

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